1 名稱 1000L冷熱衝擊試驗箱
2 主要技術參數
2.1 測試環境條件 環（huán）境溫度為 23℃±3℃、相對濕度 35％～65％RH、試驗箱在“模擬負載”條
件下。
2.2 設備型（xíng）號 ASR-GH2CJ-1000FW
2.3 設備名稱 水平兩溫區高低溫衝擊試驗箱
2.4 標稱內容（róng）積 1000 L
2.5 提籃尺寸 W1000mm×D1000mm×H1000mm
2.6 外形尺寸（參考， 具體以設計為準） W4155mm×D2120mm×H2100mm（參考，以實際設計為準） 備注：尺寸不包括凸出部分（如把手、控製器等）。
2.7 試驗方式 對開門水平移動兩箱提（tí）籃式。
2.8 溫度衝擊範圍及精度 衝擊範圍：
-60℃～+150℃（高（gāo）溫 60℃～+180℃，低溫（wēn）-70℃～-10℃） 精度：
溫度波動度±0.3℃
溫度偏差±1.6℃ 溫度均勻度≤1.6℃
2.9 高溫（wēn）區 溫度曝露範圍 +60℃～+150℃
預熱（rè）溫度上限（xiàn） 180℃
升溫速率 R.T.→＋180℃<40min（單獨運行時性能） 2.10 低溫（wēn）區 溫度曝露範圍 -60℃～-10℃ 預冷溫度下限 -70℃ 降溫速率 R.T.→-70℃<60min（單獨運行時性能（néng）） 2.11 試驗區（提籃） 高溫曝露溫度範 圍 +60℃～+150℃ 低溫曝露溫（wēn）度範 圍 -60℃～-10℃ 溫度波動度 ≤ ±0.3℃ 溫度偏差 ±1.6℃ 2.12 曝（pù）露（駐留）時間 30min 2.13 提籃轉換時間 ≤10s 2.14 溫度（dù）恢複時間 ≤5min (a. 在帶載（zǎi） 30kg 鋁錠或等效塑封 IC、電路（lù）板)時，高溫 80℃暴露，低溫- 40℃暴露，暴露時間均為 30min； (b. 在帶載 30kg 鋼鐵或等效塑封IC、電路板)時（shí），高溫 150℃暴露 30min， 低溫- 60℃暴露均為（wéi） 30min。 2.15 穩定時間 設備中心點溫度達到指定溫度後，再到（dào）達（dá）穩定條件（可實現計量和驗收條 件）的（de）時間需小於 30 分鍾。 2.16 運行方式 (1)通過控製（zhì）器需可選擇運行方式：溫度衝擊試驗、溫度浸泡試驗；溫度浸泡試驗指的（de）是：衝擊箱（xiāng）可以當做獨立的低溫箱或者高溫（wēn）箱來使用 （通過（guò）讓吊籃切換周期變長實現）； (2)衝擊（jī）起始選擇：可以自由選擇衝擊試驗的起始點（diǎn）從高溫區開始或者從低溫區開始；