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PCT高壓加速老化試驗箱（xiāng）技術要點

PCT高壓加速老化試驗箱適用於（yú）國防、航（háng）天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、製藥（yào）線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明製品等產品之密封性（xìng）能的檢測（cè），相（xiàng）關之產品作加速壽命試驗。

技術要點是:
密封作用、安全性能和操作方式。1.密封作用:背壓式PCT高壓老化試（shì）驗箱依靠（kào）箱內壓力關閉通向內箱（xiāng）的門（mén），達到良好的（de）密封作用。當箱內壓力（lì）為0.1MPa時，內箱會以0.1MPa的力關門（mén），剛好達到很好的密封作用，不需要額外的壓力就可以輕（qīng）鬆完（wán）成；當箱內壓力為0.2MPa時，內（nèi）箱會以（yǐ）0.2MPa的吸力關門，整個密封（fēng）過程基本靠設備自身實現。
3.安（ān）全（quán）性能:在測試過程中，隨著箱內壓（yā）力的增（zēng）加，反壓門（mén）扣會（huì）自動鎖（suǒ）死，箱門無法打（dǎ）開，可（kě）以更有效的防止（zhǐ）操作者無意中打開箱門。當箱內壓力排出後，反壓門扣會自動解鎖，真正起到了門禁的作用。
操作方式:平麵反壓門設計，用（yòng）戶關門時隻需逆時針旋轉把手180度，其餘由設備自動完成。安全（quán）、方便、快捷、有效。
瑞PCT測試（shì）儀主要用於測試半導體封（fēng）裝的吸濕容量。當被測產（chǎn）品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時，水分會沿（yán）膠體（tǐ）或膠體與引（yǐn）線框架的界麵滲入封裝。常見的故障模式是有源金屬化區域腐蝕導致的開路或汙染導致的封（fēng）裝引（yǐn）腳之間的短路。廣泛用於測試（shì）印刷電路板、多層印刷電路板、IC、LCD、稀土材料、釹鐵硼、磁鐵等產品的密封性能（néng），測試其產品的耐壓性和（hé）氣密（mì）性（xìng）。加速壽（shòu）命試驗的目（mù）的是（shì）增加環境應力(如溫度)和工作應力(如施加在產品上的電壓和負載)，加快試驗過程，縮短產（chǎn）品或係統的壽命試驗時間。

規格:
1.內箱尺寸:φ300×D450(mm)
2.外箱尺寸:W660×H1050×D1250 (mm)
3.內箱材料:SUS 304#不鏽鋼板。
4.外箱材料:烤（kǎo）漆或不鏽鋼。
5.溫度範（fàn）圍:100℃ ~ 132℃(飽和蒸汽溫度)。
6.濕度範圍:**RH。(飽和蒸汽濕度)。
7.壓力範圍:0.2kg/cm2 ~ 2.4kg/cm2控製點壓力。
8.時間範圍:0 ~ 999小時可調。
9.溫度分布:(+/-)2.0℃。
10.加熱時間:RT ~ 132℃約（yuē）45分鍾(控製點溫度)。
1.加壓時間（jiān）:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2，約40分鍾(控製（zhì）點壓（yā）力)。
12.控製（zhì）對象:微機+P.I.D.+S.S.R自動計算控製飽和蒸汽溫度。
13.控製方式（shì）:微電腦PID控製。
14.控製精度:(+/-)0.5℃。15.分析精度:0.1℃。

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