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PCT測試（shì）儀器（qì）常見的故障（zhàng）模式是什麽？
PCT測試儀主要用（yòng）於測試半導體封裝的吸濕能力。當被測（cè）產品在（zài）惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時，水分會沿膠體或膠體與引線框架的界麵滲入封裝（zhuāng）。常見的故障模式是有源（yuán）金屬化區域腐蝕（shí）導致的開（kāi）路或汙染導致的封裝引腳之間的短路。廣（guǎng）泛用於測試印刷電路板、多層印刷電路板、IC、LCD、稀土材（cái）料、釹（nǚ）鐵硼、磁鐵等產品的密封性能（néng），測試其產品的耐壓性和氣密性。加速壽命試驗的（de）目（mù）的是增加環境應力(如溫度)和工作應力(如施加在（zài）產品上的電壓和負載)，加快試驗過程，縮短產（chǎn）品（pǐn）或係統的壽命試驗時間（jiān）。
內部尺（chǐ）寸:φ300×D450(mm)
外箱尺寸:W660×H1050×D1250 (mm)
內盒（hé）材料:SUS 304#不鏽鋼板。
材料:烤漆或不鏽鋼。
溫度範圍（wéi）:100℃ ~ 132℃(飽和蒸汽溫度)。
濕度範圍:**RH。(飽和蒸汽濕度)。
壓力範圍:0.2 kg/cm2 ~ 2.4 kg/cm2控製點壓力。
時間範圍:0 ~ 999小時（shí）可（kě）調。
溫度分布:(+/-)2.0℃。
加熱時間（jiān）:RT ~ 132℃約45分鍾(控製點溫度)。
加壓時間:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2，約40分鍾（zhōng）(控製點壓力)。
控製對象:微機（jī）+P.I.D.+S.S.R自動計（jì）算控製飽和蒸（zhēng）汽溫（wēn）度。
控製方（fāng）式:微電腦PID控製。
技術要點包（bāo）括:密封作（zuò）用、安全性能（néng）、操作方式。密封作用（yòng）:愛思力公司設計的背壓式PCT高壓老化試驗箱，依靠箱內的壓力來（lái）緊密關閉通向內箱的門，達到良好的密封作用。當箱內壓力（lì）為0.1MPa時，內箱（xiāng）會剛好以0.1MPa的力關門（mén），達（dá）到良好的密封作用，無需（xū）額外壓力即可輕鬆完成；當箱內壓力為0.2MPa時，內箱會以0.2MPa的吸力關門，整個密封過程（chéng）基本靠設備自身實現。
安全性能:在測試（shì）過程中，隨著箱內壓（yā）力的增加，反壓（yā）門扣會自動鎖死，箱門無（wú）法打開，可以更有效（xiào）地防止操作（zuò）人員無意打開的危險。當（dāng）箱內壓力排出後，反壓（yā）門扣會自動解鎖，真正起到了門禁的作用。
操作方式:平麵反壓門設計，用戶關門時隻需逆時針旋轉把（bǎ）手180度，其（qí）餘由設備自動完成。安（ān）全、方便、快捷、有效！
控製（zhì）精（jīng）度:(+/-)0.5℃。分析精度:0.1℃。
產品特點:
1.具有自動加水功能，測試時水位過低可自動補水；
2.LED數字溫度控製器可設定、控製和顯示準確的測試溫度；
3.LED數（shù）字定時器，當（dāng）鍋內溫度達到時開（kāi）始計時，確保測試完成；
4.準確的壓力/溫度計可以隨時顯示鍋內的壓（yā）力（lì）和相對溫度；
5.運行時，流水裝置自動排出不飽和蒸汽，達到蒸汽品質；
6.一體式矽膠門墊，氣體密度好，使用壽（shòu）命長；
7.試驗箱經拋光（guāng）處理後耐用（yòng）、美觀、無汙染；
8.鍋內安全裝（zhuāng）置:鍋門未關好，機器無法啟動（dòng）；
9.安全閥:當（dāng）鍋內壓力超過工作值時，自動（dòng）排氣泄壓；
10、雙重過熱保護裝置，當鍋內溫（wēn）度過高時，機器嘟嘟報警並自切斷加熱電源；
11.門蓋保護:ABS材料可防止操作者被（bèi）接觸燙。
