PCT飽和蒸汽（qì）試驗箱適用於國防、航空航天、汽（qì）車零部件、電（diàn）子零配（pèi）件、塑料、磁體工業、製藥、電路（lù）板、多層（céng）電路板、ic、LCD、磁體、照明、照明產品等產品（pǐn）的密封性能測試。，並對相關產品進（jìn）行加速壽命測試（shì），用於產品的設計階段，用於（yú）快速暴露產（chǎn）品的（de）缺陷和（hé）薄（báo）弱環節。測試其產品（pǐn）的耐厭氧性和氣密性。測試（shì）半導體封裝的防潮能力。待測產品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時，水分會沿著膠體（tǐ）或膠體與引（yǐn）線框的界麵滲入封裝內。常見（jiàn）的故障模（mó）式是有源金屬化區域腐蝕導致（zhì）的（de）開路，或封裝引腳之間汙染導致的短路。加速老化壽（shòu）命試驗的目的是增加環（huán）境（jìng）應（yīng）力(如溫度)和工作應力(施加在產（chǎn）品上的電壓和負載等)。)，加快測（cè）試過程，縮（suō）短產品或係統的壽命測（cè）試時間。
PCT測試箱使（shǐ）用（yòng）:該設備主要用於航空、航天、電子、國防、科研（yán）等（děng）工業（yè）部門在溫度、濕度、低壓等單一或複雜（zá）環境條件下確定的電氣電子產品(包括元器件、材料、儀表)的儲運等可靠性（xìng）試驗。
 PCT飽和蒸汽壓力試驗箱使用範圍
PCT試驗箱主要參數:
內部尺寸:60 * 80 * 85厘米。
溫度範圍:LPT:-70~+160℃LPTH:(環境溫度+20)℃~+160℃。
濕度範圍:10 ~ 98%相對（duì）濕度（dù）
壓力範圍:正常壓力:0.5千帕
溫度波動（dòng）:≤ 0.5℃(常壓下)。
溫度（dù）均勻性:≤ 2℃(常壓下)。
濕度波動:≤ 2% r.h(正常壓力下)。
濕度均勻性:≤ 3%相對濕度(相對濕（shī）度> 75%相對濕度時)；≤ 5%相對濕度(相對濕度≤75%相對（duì）濕度時)。
壓力偏（piān）差:≤ 2kpa (≥ 40kpa)、≤ 5%(在2 ~ 40kpa時)、≤ 0.1kpa(在≤ 2kpa時)。
加熱時（shí）間為25℃(常溫)→+160℃≤60分鍾(常壓（yā）)。
冷卻時間:(限LPT型)+25→-65℃(常壓下)。
PCT試驗箱性能參數測試:
1.在開發階（jiē）段，用於暴露試製（zhì）產（chǎn）品各方麵的缺陷，評估產品達到預定目標的可靠性；
2.生（shēng）產階段為監控生產過程提供信息；
3.對終產品進行（háng）可靠性評估或驗收；
4.揭示和（hé）分析產品在（zài）不同環境和應力條件（jiàn）下的失效（xiào）規律（lǜ）及相關失（shī）效模式和失效機理；
5.提高產品可靠性，製定和完善可靠性試驗方案，為用戶選擇產品提供依據。