電子器件冷熱衝（chōng）擊實驗應注重哪些問題？
試樣通（tōng）常擱置（zhì）在（zài）冷熱衝擊室的低溫室之中，並在短時光之內（nèi）挪動到較高的溫度，而後複原到室溫，偏反複幾個循環。有兩品種型的體係測試，空氣對空（kōng）氣或液體對液體。
空冷衝擊和熱衝擊實驗運用較高的溫度變更率。在一個兩箱冷（lěng）熱衝擊室之中，一個房間（jiān）的溫度維持低溫，另一（yī）個房間溫度維持冷。用支架在幾（jǐ）秒鍾之內將被測部件在兩個（gè）腔室間挪動。為了防止試（shì）件裸露於環境溫度和人（rén）員（yuán）操（cāo）作安危，通常采取全封閉式（shì）熱衝擊實（shí）驗箱（xiāng）。
在液－液體係之（zhī）中，雙缸體係和機械化籃安（ān）裝用於在低溫順低溫室（shì）間挪動被測部件。當須要更高的傳熱率和更高（gāo）的熱能時，體係采取冷熱衝擊箱。
熱衝擊和冷（lěng）衝擊循環的次數可從1到250次不等，詳細取決於（yú）安裝的類型及其（qí）運用。起（qǐ）碼對產品的運用壽（shòu）命和運用狀況做一（yī）些類比。
 電子器件冷熱（rè）衝擊實驗
在一次循環之後，應運（yùn）用10倍到20倍的縮（suō）小鏡對外殼、引線和密封件進行外部目視檢討。標誌也應該用3倍（bèi）縮小鏡檢討（tǎo）。壓力實驗之後，假如（rú）有不清楚的標誌或導（dǎo）線或密封件破壞，應視（shì）為故障。
除了在冷（lěng）熱衝擊室之中（zhōng）進行相幹實驗之外，還必需遵照部件標準進行樣品電氣實驗，以檢測實驗引起的電氣故障。在電子工業之中，熱衝擊減速的失效機製包含芯（xīn）片開裂（liè）、封裝決裂、斷線和引線（xiàn）鍵合。
電子器件冷熱衝擊實驗掌握溫度循環實驗的兩個行業標準是（shì）mil－std－883方式1011和JEDEC jesd22－a106。
軍用（yòng）標準883方式1011冷熱（rè）衝擊實驗標準如下：
總傳（chuán）遞時光<；10秒 總停留時（shí）光>；2分鍾
在<；5分鍾之內到達規則溫度 必需進行15次（cì）循環（huán） 電子器件冷（lěng）熱衝擊實驗